2015年7月16-18日，第12届IEEE国际电子测量与仪器学术会议（ICEMI）在青岛成功召开。会议为期3天，共400多位国内外专家学者围绕“推动科学仪器进步，引领学科技术发展”的主题进行了多方向、深层次的学术探讨，取得了交流前沿技术、共谋行业发展的良好效果。会议由中国电子学会主办，中国电子学会电子测量与仪器分会、中国电子科技集团公司第四十一研究所(电子测试技术重点实验室)、西安电子科技大学以及《电子测量与仪器学报》杂志社共同承办。

        7月17日的开幕式由北京市电子科技情报研究所副所长、《仪器仪表学报》执行副主编张莹主持，大会主席、中国电子科技集团公司第四十、四十一研究所所长李立功致开幕词，中国电子科技集团公司科技部副主任方葛丰、西安电子科技大学副校长杨银堂出席开幕式并致辞。

        随后的主会场报告由法国南茜大学Omar Elmazria教授和英国剑桥大学Chu Daping教授主持，9场专业报告引起了在场专家学者的强烈兴趣和热烈讨论。中国电子科技集团公司首席科学家年夫顺研究员以“The Development of Microwave Millimeter Wave and Terahertz Measurement Technology ”为主题，分析了毫米波微波测量面临的技术挑战及发展趋势。Chu Daping 教授的报告“A Double Sided Roll-to-Roll System for the Fabrication of Flexible Display Panels”，介绍了PSG R2R系统的设计和操作，以及R2R处理的未来发展趋势。美国IEEE I&M Society TC-4主席Brain Lee 教授作题为“Instrumentation for Emerging 5G and Measurement”的报告，西安电子科技大学周渭教授的“Border Effect in Precise Time-frequency Measurement and Control and Its Broad Application”报告，展示了其最新的研究成果。法国南茜大学Omar Elmazria教授、葡萄牙塞图巴尔理工学院Miguel Pereira 教授、美国伊利诺大学芝加哥分校David He教授、澳大利亚悉尼大学Philip H.W. Leong 教授、澳大利亚新南威尔士大学Oliver Diessel 教授分别作了主题报告。

        7月18日，举办了ICEMI’2015分会场报告与张贴交流，共设7个分会场，分别为“状态监测、系统故障预测与健康管理”分会场；“毫米波、THz及基础测量技术”分会场；“传感器技术与应用”分会场；“光电信息处理”分会场；“卫星导航测试与评估”分会；“工业自动化测量与控制”分会场；“时间频率测量与图像信息处理”分会场，84名参会代表分别在7个分会场做了不同研究方向的分会场报告。与各个分会场同时进行的还有张贴报告交流，200多个张贴报告吸引了大批的学者驻足。两天的会议报告吸引了来自俄罗斯、法国、澳大利亚、美国、英国、瑞典、日本、葡萄牙、中国等9个国家400多人前来参会交流。